E Q U I P A M E N T O S
O Laboratório Multiusuário de Caracterização de Materiais (LMCMat) conta com equipamentos de médio e grande porte, tais como microscópio eletrônico de varredura (MEV) equipado com detectores SE, BSE e EDS/EDX, e sistema de preparação de amostras (metalizador); analisadores de distribuição de tamanho de partículas a laser, nas faixas micrométricas e nanométricas, com determinação de potencial zeta; além de Espectrômetro de Fluorescência de Raios X (FRX) de bancada.
MEV VEGA G4 LMS TESCAN (SE, BSE e EDS) + Sistema de preparação de amostras
O microscópio eletrônico de varredura TESCAN VEGA de 4ª geração com fonte de elétrons de filamento de tungstênio, combina imagens de MEV e análise de composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence ™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o VEGA uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina dos materiais nos laboratórios de controle de qualidade, análise de falhas e pesquisas.
O microscópio eletrônico de varredura modelo VEGA LMS marca TESCAN, completo com filamento de Tungstênio (W), 30 kV, resolução de 3.0 nm, detectores de elétrons secundários (SE), elétrons retroespalhados (BSE) de alta resolução (0,1 Z) e sistema de microanálise Tescan EDS Essence com detector EDS fixo totalmente integrado ao software operacional, área do sensor de 30 mm2 e resolução menor que 129 eV, incluindo sistema de retração motorizado automático, modos de alto e baixo vácuo fixo de 30 Pa ± 10 Pa, câmara com diâmetro interno de 230 mm e abertura de porta de 148 mm, estágio 5 eixos compucêntrico, totalmente motorizado, com movimentos X: 80mm, Y: 60mm e Z: 50mm e câmera CCD com iluminação infravermelho para visualização da câmara de amostras.
O sistema de preparação de amostras é composto pelo Metalizador G20, possibilitando o revestimento de filme fino de metal na superfície de amostras não condutoras ou levemente condutoras, por meio da deposição catódica de filme fino de ouro (Au).
FRX S2 Puma Bruker
O S2 PUMA é um espectrômetro de fluorescência de raios X de energia dispersiva (FRX) de bancada que permite a análise química multielementar de Carbono (C6) a Amerício (Am95) dependendo da configuração. Com a tecnologia Silicon Drift Detectors (SDD) de última geração, fornecendo a melhor resolução de energia nas maiores taxas de contagem, com uma excelente separação de elementos e baixos limites de detecção até o nível de ppm.
O S2 PUMA é um equipamento com facilidade de uso e alto desempenho, operando com gás hélio ou nitrogênio para amostras líquidas e sendo aplicável para caracterização de amostras diversas, tais como cimento, minerais industriais, geologia, química, produtos farmacêuticos e alimentos, tornando o S2 PUMA se torna um analisador elementar acessível e poderoso para aplicações de alto rendimento.
O equipamento possui tecnologia HighSense™ XP Silicon Drift Detector (SDD) em sua mais nova geração, fornecendo a melhor sensibilidade da categoria para elementos de carbono a amerício (C – Am), desempenho de resfriamento aprimorado e uma janela de grafeno robusta de 0,9 μm. Modos de detector exclusivos podem ser selecionados no software para otimizar as condições analíticas para cada aplicação. A melhor resolução de energia em Mn K-alfa é < 132 eV e a taxa máxima de contagem de entrada atingível é de 2.400.000 cps.
O software SMART-QUANT FP é a solução para a análise elementar (F9 – Am95) de amostras desconhecidas e sem padrões de calibração disponíveis no laboratório.
Granulômetro PSA 1190L Anton Paar
A tecnologia de lasers múltiplos do PSA 1190L possibilita a mensuração dos tamanhos de partículas em uma ampla faixa. O uso de lasers em estado sólido garante que os instrumentos da série PSA estejam prontos para realizar medições logo após serem ligados, sem precisar de tempo de aquecimento.
A técnica de difração a laser é um método estabelecido para medir tamanhos de partículas nanométricas até a faixa de milímetros. Um feixe de laser é direcionado para partículas dispersas e, então, a luz do laser é difratada pelas partículas, e o padrão de difração correspondente é detectado e avaliado. Os instrumentos PSA da Anton Paar trabalham com detectores de alta resolução para fornecer sinais de medição precisos e reproduzíveis que são usados para calcular distribuições de tamanho de partículas com base nas teorias de Fraunhofer e Mie. O PSA 1190L detecta partículas na faixa entre 40 nm e 2,5 mm, dispersas em líquidos, e possui adaptador para tanque ultrassônico que permite medir amostras de baixo volume (PSA unit). O equipamento é controlado pelo software Kalliope.
Granulômetro Litesizer DLS 500 Anton Paar
Instrumento para caracterização de partículas em dispersões líquidas por DLS/ELS/SLS. Permite medir tamanho e distribuição de tamanho de partículas, potencial zeta, massa molecular, transmitância e índice de refração. Apresenta 3 diferentes ângulos de medição (15°, 90° e 175°) selecionáveis manualmente ou automaticamente através do software Kalliope. Possui algorismos avançados que permitem estudar amostras polidispersas, com resolução suficiente para obter 2 e 3 picos de tamanhos de partículas. As medidas contínuas de transmitância permitem a análise direta da turbidez. Utiliza a técnica cmPALS que fornece precisão sem precedentes em medições ELS. Utiliza exclusiva cubeta em Ω, permitindo as medições ELS independentes da posição de medição em função de campo elétrico homogêno no canal de medição. Assim, os resultados são altamente estáveis e reprodutíveis.
Tamanho de Partícula
- Princípio de medição: DLS
- Faixa de medição (tamanho de partícula): 0,3 nm à 10,0 μm
- Ângulo de medição: 15°, 90° e 175°
- Faixa de controle de temperatura: 0°C a 90°C
- Tempo de aquecimento do laser: 6 min
- Volume mínimo de amostra: 12 μL
Potencial Zeta
- Princípio de medição: ELS
- Faixa de medição (tamanho da partícula): 3,8 nm a 100 μm
- Faixa de medição: > ± 1000mV
- Ângulo de medição: 15°
- Condutividade Máx. da Amostra: 200mS/cm
- Faixa de pH: 2 – 12
- Volume mínimo de amostra: 50 μl
Peso Molecular
- Princípio de medição: SLS (Debye plot)
- Faixa de medição: 980 Da – 20 MDa
- Ângulo de medição: 90°
- Sensibilidade Absoluta (tolueno): >70 kcps (side-scattering)
Índice de Refração
- Faixa de medição: 1.28 – 1.50
- Precisão: melhor que ± 0.5% conforme ISO 22412
- Volume mínimo de amostra: 1mL